梅特勒電子天平XS3DU，金山電子天平維修銷售

生產廠家：瑞士梅特勒托利多|上海梅特勒 

校準方式 ：內部校準

精度2 ：0.01mg

稱量范圍2 ：3.1g

精度 ：0.001mg

稱量范圍 ：0.8g

   來電優惠

梅特勒-托利多XS3DU微量天平具有卓越的稱量性能，完全滿足基礎稱量應用：在800 mg的精細量程范圍內提供1 μg的可讀性。具有同類產品中最佳的重復性可低至0.8 μg，是獲得理想的稱量可靠性的關鍵，避免不必要的重復測試，顯著地降低了樣品和時間的浪費。
梅特勒-托利多XS3DU微量天平專為提高稱量效率和可靠性而設計。
標準配置
內置稱量應用程序
TouchScreen觸摸屏，方便天平稱量和參數設置
SmartTrac彩色動態圖形顯示器：圖形稱量輔助，跟蹤稱量范圍和公差
可設置多達10個特定功能的快捷鍵
可定義3個的信息，用于用戶和樣品標識
內置RS232C和兩個輔助接口；用于連接鍵盤或ErgoSens外接紅外感應器選件，實現無需用手接觸的稱量操作
第二接口選件插槽；例如LocalCAN，以太網，RS232，MiniMettler，藍牙或PS/2等接口選件
手動開關門的玻璃防風罩
可更換的顯示屏保護蓋
下掛鉤稱量
具有過載保護的稱量傳感器
顯示多種質量單位
差重稱量應用程序
計件和百分比稱量應用程序
統計應用程序
技術指標
極限值
XS3DU 雙量程
最大稱量值
3.1 g
可讀性
0.01 mg
最大稱量值
0.8 g
可讀性
0.001 mg
重復性(sd) - 加載處
0.006 mg
- 低加載（加載處）
0.005 mg (0.2 g)
重復性(sd) - 加載處
0.001 mg
- 低加載（加載處）
0.0008 mg (0.2 g)
線性誤差
0.004 mg
四角誤差（加載處）1)
0.005 mg (2 g)
典型值 4)
典型重復性（sd）
0.0005 mg +1.2 x (10–7)•R_gr
典型微分非線性（sd）
√2x(10-12)g·R_nt
典型微分四角誤差（sd）
1.2 x (10–6)•R_nt
典型靈敏度偏移（sd）2)
3 x (10–6)•R_nt
典型最小稱量值* (@ U=1 %, 2 sd)
0.1 mg+2.4 x (10–6)•R_gr
典型穩定時間
< 6 sec 
穩定時間
< 10 sec
1) 根據OIML R76
2) 在10到30°C的溫度范圍內
3) 第一次安裝，使用proFACT校準，靈敏度穩定性
4) 能用于估計不確定度 sd=標準偏差 Rgr=毛重 Rnt=凈重（樣品質量） a=年
* 重復性和最小稱量值可以通過以下措施得以改進：- 選擇適當的稱量參數設置，- 選擇合適的天平放置位置，- 使用較小的去皮容器。