特性阻抗測(cè)試儀Controlled Impedance Test System
CITS900S4 規(guī)格說明：
特性阻抗測(cè)試系統(tǒng)(Controlled Impedance test systems)，型號(hào)：CITS900S4，生產(chǎn)商：英國(guó) POLAR
公司，
POLAR CITS900S4 提供了電路板控制阻抗量測(cè)的唯一解決方案,此卓越量測(cè)系統(tǒng)特別設(shè)計(jì)用于
PCB 生產(chǎn)線環(huán)境,操作極簡(jiǎn)單.
CITS900S4 由 32bit 軟件控制,使用 TDR 技術(shù)去量測(cè)快速上升時(shí)間之脈波的反射信號(hào),提供沿著銅軌
長(zhǎng)度上的圖形化特性阻抗顯示.
每臺(tái) CITS900S4 的整個(gè)電阻量測(cè)范圍上,確保皆為高精度性能,因?yàn)槭褂?32bit 軟件,并于出廠前使用
可追塑至國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)的 28,50,75 及 100ohm 的標(biāo)準(zhǔn) Airline 作 4 點(diǎn)全范圍自動(dòng)校正,另用 resistor box 對(duì)
150，180 檔位進(jìn)行校正，并提供校正報(bào)告.
此系統(tǒng)提供了 PCB 單端線路及差動(dòng)線路的簡(jiǎn)易,準(zhǔn)確測(cè)量方法。
測(cè)量控制阻抗
阻抗測(cè)量通常使用時(shí)域反射計(jì) (TDR) 來完成。TDR 通過控制阻抗線纜和探針向試樣應(yīng)用快速電壓
步長(zhǎng)。任何脈沖微波中的反射都將顯示在 TDR 上，并且表示阻抗值的變化（稱為不連續(xù)性。）TDR
可以表明不連續(xù)性的位置和幅度。使用適當(dāng)?shù)能浖琓DR 可以繪制試樣的測(cè)試跡線長(zhǎng)度上的阻抗
圖。所生成的跡線特性阻抗的圖形化表示將允許在生產(chǎn)環(huán)境中執(zhí)行此前所述的復(fù)雜測(cè)量。
