CMI測(cè)厚儀標(biāo)準(zhǔn)片AU/NI/CU/AG/ZN/SN/PD/PB

X射線測(cè)厚儀標(biāo)準(zhǔn)校正片，建檔標(biāo)準(zhǔn)片，校正標(biāo)準(zhǔn)片，X射線標(biāo)準(zhǔn)校正，美國(guó)Calmetrics膜厚儀標(biāo)準(zhǔn)片Calibration Standard： X射線測(cè)厚儀標(biāo)準(zhǔn)片 鍍層標(biāo)準(zhǔn)片膜厚片 測(cè)厚儀標(biāo)準(zhǔn)片 其專門為儀器大廠如Fischer、Oxford（CMI）、Thermo、Veeco、Micro Pioneer、Seiko等生產(chǎn)制作標(biāo)準(zhǔn)樣品。 適用于Fischer、Oxford、CMI、Thermo、Veeco、Micro Pioneer、Seiko等各廠牌X-ray（X射線測(cè)厚儀）、 β-ray（β射線測(cè)厚儀）、磁感式及渦電流等多種原理的各種規(guī)格與尺寸。特色：標(biāo)準(zhǔn)片A2LA校正認(rèn)證，質(zhì)量精良，精度高、穩(wěn)定性好 X-Ray、β-Ray、磁感式、渦電流式專用標(biāo)準(zhǔn)片 測(cè)厚儀標(biāo)準(zhǔn)片又名膜厚儀校準(zhǔn)片或者薄膜片，專業(yè)用于X射線測(cè)厚儀（膜厚儀）在測(cè)金屬鍍層厚度時(shí)進(jìn)行的儀器標(biāo)準(zhǔn)化校準(zhǔn)及建立測(cè)量分析檔案。 X射線測(cè)厚儀標(biāo)準(zhǔn)片一般分為單鍍層片，雙鍍層片、多鍍層片、合金鍍層片、化學(xué)鍍層片。例如：?jiǎn)五儗樱?span lang="EN-US">Ag/xx，雙鍍層：Au/Ni/xx， 三鍍層：Au/Pd/Ni/xx，合金鍍層：Sn-Pb/xx， 化學(xué)鍍層：Ni-P/xx。（所有標(biāo)準(zhǔn)片都附有NIST證書） 我們可以根據(jù)客戶不同的金屬元素、鍍層結(jié)構(gòu)及鍍層厚度等要求向美國(guó)工廠定做合格的標(biāo)準(zhǔn)片，并附有標(biāo)準(zhǔn)片厚度值NIST證書.

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