電話:0510-88300117 手機:18021198037 QQ:2434319751 聯系人:安小姐
報告專業權威,國際認可
報告專業權威,國際認可
主要應用于各種固體材料體相雜質的直接測量,包括鍍層,涂層和薄膜,也就是用于純度分析和雜質分析
檢測面積:40-200平方毫米(消耗50微米厚度的樣品)
檢測極限:ppb 級別
檢測范圍:73種元素
主要適合以下產品:
高純材料
合金
碳及石墨材料
半導體材料 (硅)
氧化物,碳化物,及陶瓷材料
粉末狀樣品
損壞面積:厚度50微米,面積
塊狀樣品:大于20mm
尺寸不足的樣品(粉末顆粒等)增加制樣費1000元
(因為需要用到7個9的銦)
金屬樣品 rmb 4500
半導體樣品(si ,GaAs) rmb 5000
非導體(氧化物,碳化物,石墨,陶瓷材料) rmb 5500
如指定元素小于等于25個,費用分別是以上費用的0.8倍。
AES(auger)
針對導體和半導體
表面顆粒的分析
小區域污染物的發現和判定
材料薄層縱向分布分析
原理雷同eds ,只是能量稍小。