CMI900 是一款性價比極高的臺式 X 射線熒光光譜儀，應用于涂鍍層厚度測量及材料成分分析。
高性能X射線熒光光譜儀
快速精確的分析：正比計數探測器和50瓦微焦X射線管，大大提高了靈敏度
簡單的元素區分：二次光束過濾器可以分離重疊元素
性能優化，測量元素范圍廣： 可預設參數
CMI900 提供800多種預設應用參數/方法
杰出的長期穩定性：
自動熱補償測量儀器溫度，糾正變化，提供穩定的結果
簡單快速的光譜校準，定期檢查儀器性能（如靈敏度），并提供必要的糾正
堅固耐用的設計
可以在實驗室或生產線上操作
堅固的工業設計
經行業驗證的技術，在全球銷售量超過3000臺
