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廣州納米硅激光粒度分析,尺寸分析
廣東省工業分析檢測中心是我國從事金屬材料、冶金產品、化工產品、再生資源質量檢測、歐盟環保（RoHS）指令的有害物質檢測、金屬材料綜合利用檢測與咨詢、評價以及分析測試技術研究的專業機構。廣州納米硅激光粒度分析,尺寸分析
廣州納米硅激光粒度分析,尺寸分析中心始建于1971 年，先后隸屬于廣州有色金屬研究院、廣東省工業技術研究院（廣州有色金屬研究院），2015年12月經廣東省機構編制委員會批準成為廣東省科學院屬下的獨立二級事業法人單位。
EDS可以用來測量：元素的定性分析，可以根據能譜圖中出現的特征譜線的位置鑒定除H、He以外的所有元素；元素的定量分析，根據能譜圖中光電子譜線強度（光電子峰的面積）反應原子的含量或相對濃度；固體表面分析，
廣州納米硅激光粒度分析,尺寸分析
技術參數：
| 基本規格 | 蔡司 GeminiSEM 300 | 日本電子JEM-2100F | ||
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熱場發射電子槍，穩定性優于0.2 %/h |
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加速電壓 |
0.02 - 30 kV | 200KV | ||
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探針電流 |
3 pA - 20 nA |
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（100 nA配置可選） |
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存儲分辨率 |
高達32k × 24k 像素 |
點：0.19nm 晶格:0.10nm;掃描透射:0.20nm |
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放大倍率 |
12 – 2,000,000 | 1,500,000,誤差≤±10% | ||
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標配探測器 |
鏡筒內Inlens二次電子探測器 |
Tenupol-5電解雙噴減薄儀 | ||
| 樣品室內的Everhart Thornley二次電子探測器 | PIPS II 695 精密離子減薄儀 | |||
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IsoMet4000精密切割機 | ||
測試步驟：
將樣品進行表面鍍鉑金后，放入掃描電子顯微鏡樣品室中，使用15 kV的加速電壓對測試位置進行放大觀察，并用X射線能譜分析儀對樣品進行元素定性半定量分析。
非磁性或弱磁性，不易潮解且無揮發性的固態樣品，小于8CM*8CM*2CM。
GB/T 17359-2012微束分析 能譜法定量分析
單位名稱：廣東省工業分析檢測中心
單位性質：獨立法人事業單位，廣東省科學所屬骨 干研究所
發展歷史：1971~2020，48年發展歷史
業務范圍：華南地區最大的金屬、礦物及新材料專業
檢測機構
人員結構：80余人，高級職稱以上人員超過40%；
裝備條件：實驗室面積4500平方米，儀器設備300余 臺，總價值4000余萬元
詳情咨詢：劉工(項目經理)
聯系電話：18707738103
