Labthink蘭光CHY-C2 薄膜厚度測量儀符合GB/T 6672、GB/T 451.3、GB/T 6547、ASTM D645等多種測試標(biāo)準(zhǔn)，適用于塑料薄膜、薄片、隔膜、紙張、箔片、硅片等各種材料的厚度精確測量。Labthink蘭光擁有先進(jìn)的檢測技術(shù)與專業(yè)實(shí)驗(yàn)室，專業(yè)致力于為全球范圍醫(yī)藥、食品、日化、包裝、印刷、膠粘劑、汽車、石化、環(huán)境、生物、新能源、建筑、航空及電子領(lǐng)域客戶提供最優(yōu)秀、最全面的品質(zhì)控制解決方案。
CHY-C2 薄膜厚度測量儀主要技術(shù)指標(biāo)：
測量范圍：0～2mm（常規(guī)）
0～6mm；12mm（可選）
分 辨 率：0.1μm
測量速度：10次/min（可調(diào)）
測量壓力：17.5±1kPa（薄膜）；50±1kPa（紙張）
接觸面積：50mm2（薄膜）；200mm2（紙張）
注：薄膜、紙張任選一種；非標(biāo)可定制
電 源：AC 220V 50Hz
外形尺寸：300 mm (L)×275 mm (B)×300 mm (H)
凈 重：33kg
以上CHY-C2薄膜厚度測量儀信息由Labthink濟(jì)南蘭光發(fā)布，歡迎致電0531-85068566了解詳細(xì)信息！
