XRF是一種能夠簡單迅速的檢測出包含金、鉑、銀在內的各種各樣的元素以及其他以固態、粉質和液態形式存在的貴金屬的非破壞性分析技術。
不用事先準備樣品，即使是非常小的樣品也可以通過微型光束進行分析。
最主要的優點是使用X-PMA分析可以達到非常高的精度。使用Xenemetrix生產的X-PMA進行元素分析可以大大提高你的分析速度：定位樣品、開始分析、瞬間得到您想要的結果。

創新點：
專用于珠寶和貴金屬檢測：金，銀，鈀，鉑，銠等類似元素
能夠簡單精確的對小樣品進行分析
配備含有基本參數的專業軟件
一體化相機進行樣品跟蹤定位
低達1mm的目標尺寸

技術參數：
測量范圍：Na (11)~U (92),特別適用于貴金屬的檢測
元素含量分析范圍：1ppm~100%
X-光管：Mo-陽極標準
X-射線電壓：50kV,50W
目標尺寸：直徑1mm
穩定性：室溫條件下精確到0.1%
探測器類型：Pin diode,熱電冷卻
分辨率：160ev±10ev
自動成樣：1個位置
樣品室尺寸：22×22cm,H=5cm
工作環境：常溫常態
脈沖：多信道分析
尺寸（L×W×H，cm）：55×55×32(不含包裝)，80×80×65（含包裝）
重量：50Kg（凈重），90Kg(總重)

主要應用：
珠寶鑒定、金元素和其他貴金屬元素判定、純度檢測、分類梳理、回收公司的應用、補齒合金檢測。