KIS產品簡介
針對平板產品背面缺陷檢測設計，適用于內檢測時的裝配不良和外檢測時的后蓋不良檢測。特點是兩段式傳送結構，中間保留一段空隙用于相機自下而上采集流過的產品背面圖像，進而在運動中完成 檢測。此產品的機構特點是尺寸較小，設置靈活，便于在產線或獨立的質檢室安裝應用。
功能簡介
1、內檢測時裝配不良，如螺釘漏打、打歪、錯打，連接器破損、未閉合等；
2、外檢測時后蓋外觀不良，如外殼劃痕、污漬、絲印不良等；
實現方案
1、基于傳送帶運輸，C1、C2段皮帶各為300mm，進行背面檢測；
2、加寬皮帶寬度至200mm，C1段寬度可以調節(jié)，以適合多種尺寸的產品；
3、背面檢測使用5M像素相機配專用平面檢測光源，確保圖像均勻清晰；
4、專用的檢測算法進行背面裝配不良檢測。
