登錄免費注冊

首頁求購專業市場展會人才會員中心

深圳市鴻怡電子有限公司

試用會員

會員積分：300

· 商鋪首頁

· 公司介紹

· 誠信資料

· 供應信息

· 采購信息

· 公司新聞

· 會員資料

· 招聘信息

· 客戶留言

· 聯系方式

友情聯接

熱門產品

更多>>

CPU測試治具 BGA1156球測試架 CPU測試架 PBGA測試治具 CPU測試座

SDM表面貼裝器件測試治具 SMD-4PIN晶振老化測試座 LOC封裝測試架

TO99(圓4-8）老化測試座運算放大器傳感器類功能校驗測試

TO263-5L翻蓋測試座功率器件芯片老化測試失效性分析批量極限驗證

QFN32(5x5)-0.5測試座非標芯片調試燒錄老化老練測試PMIC功率器件

LCC146-1.0-35x44芯片測試座用于IoT調試以及射頻性能驗證

BGA272閃存測試夾具SM2246EN主控一拖二翻蓋測試座SSD測試治具

QFN92-0.35老化座收發單片機MCU測試燒錄老煉等失效性分析連接器

$TO220\/247ATE測試座用于IGBT芯片finaltest高速自動化上下料老化$

TO220\/247ATE測試座用于IGBT芯片finaltest高速自動化上下料老化

QFN82（8*8）-0.35芯片測試座用于老化老煉燒錄性能調試失效分析

QFN104芯片測試座0.35mm間距10x10mm尺寸老化測試燒錄IC

LCC48-1.0收發光模塊測試座支持10Gbps即VCSEL陣列低功耗高速數據

MSOP10轉DIP10老化測試座帶板編程燒錄座鍍金耐高溫0.5間距

QFN88-0.35下壓老化座支持V831AICameraSoC芯片8x8mm老化測試

$QFN40-0.5微小型測試座支持6x6mm用于MLF\/QFN封裝芯片老化測試$

QFN40-0.5微小型測試座支持6x6mm用于MLF\/QFN封裝芯片老化測試

DFN6-0.65-2x2芯片燒錄座用于此類芯片固件燒錄調試校驗測試

定制QFJCLCC24帶引腳陶瓷芯片載體測試夾具EPROM讀寫座老化測試座

PLCC28-1.27-12.45x12.45燒錄座老化座IC燒錄編程測試座可靠測

QFP100-0.65翻蓋老化座國產替代本體尺寸14x20帶腳17.9x23.9mm

WLCSP6-0.4測試座0.792*1.192mmLDOregulatorCMOS芯片老化驗證

公司簡介

深圳鴻怡電子有限公司專業研制、開發、生產各類IC的Burn-in Socket、Test Socket及各類IC測試治具，向客戶提供專業的集成電路測試、燒錄、老化試驗等的連接解決方案；專業研制、開發、生產各類高性能、低成本的Burn-in Test Socket及各類IC測試治具，適用于多種封裝：BGA,PGA,QFN,GCSP,CLCC,QFP,TSOP
一、定制SOCKET相關的端子板
二、定制U盤的BGA座：BGA100/107/149/152及共同的方案板。
三、定制EMMC(BGA/153/189)及LGA52/60測試座
四、需要測FLASH的產品治具，IC測試,BGA植球，芯片測試架，U盤測試架，測試架，燒錄座，老化座，返修，電腦主板，內存條測夾具，顯卡，顯存測試夾具，DDR3測試架攝像IC測試座
手機、藍牙、GPS、DDR內存芯片測試夾具

聯系方式

公司：	深圳市鴻怡電子有限公司
稱呼：	William （）
電話：
手機：	13622364332
傳真：
地址：
公司網址：
郵編：
通訊工具：	QQ:	MSN:	旺旺: