深圳市鴻怡電子有限公司

CPU測(cè)試治具 BGA1156球測(cè)試架 CPU測(cè)試架 PBGA測(cè)試治具 CPU測(cè)試座

SDM表面貼裝器件測(cè)試治具 SMD-4PIN晶振老化測(cè)試座 LOC封裝測(cè)試架

TO99(圓4-8）老化測(cè)試座運(yùn)算放大器傳感器類(lèi)功能校驗(yàn)測(cè)試

TO263-5L翻蓋測(cè)試座功率器件芯片老化測(cè)試失效性分析批量極限驗(yàn)證

QFN32(5x5)-0.5測(cè)試座非標(biāo)芯片調(diào)試燒錄老化老練測(cè)試PMIC功率器件

LCC146-1.0-35x44芯片測(cè)試座用于IoT調(diào)試以及射頻性能驗(yàn)證

BGA272閃存測(cè)試夾具SM2246EN主控一拖二翻蓋測(cè)試座SSD測(cè)試治具

QFN92-0.35老化座收發(fā)單片機(jī)MCU測(cè)試燒錄老煉等失效性分析連接器

TO220\/247ATE測(cè)試座用于IGBT芯片finaltest高速自動(dòng)化上下料老化

QFN82（8*8）-0.35芯片測(cè)試座用于老化老煉燒錄性能調(diào)試失效分析

QFN104芯片測(cè)試座0.35mm間距10x10mm尺寸老化測(cè)試燒錄IC

LCC48-1.0收發(fā)光模塊測(cè)試座支持10Gbps即VCSEL陣列低功耗高速數(shù)據(jù)

MSOP10轉(zhuǎn)DIP10老化測(cè)試座帶板編程燒錄座鍍金耐高溫0.5間距

QFN88-0.35下壓老化座支持V831AICameraSoC芯片8x8mm老化測(cè)試

QFN40-0.5微小型測(cè)試座支持6x6mm用于MLF\/QFN封裝芯片老化測(cè)試

DFN6-0.65-2x2芯片燒錄座用于此類(lèi)芯片固件燒錄調(diào)試校驗(yàn)測(cè)試

定制QFJCLCC24帶引腳陶瓷芯片載體測(cè)試夾具EPROM讀寫(xiě)座老化測(cè)試座

PLCC28-1.27-12.45x12.45燒錄座老化座IC燒錄編程測(cè)試座可靠測(cè)

QFP100-0.65翻蓋老化座國(guó)產(chǎn)替代本體尺寸14x20帶腳17.9x23.9mm

WLCSP6-0.4測(cè)試座0.792*1.192mmLDOregulatorCMOS芯片老化驗(yàn)證