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| 產品參數 | |||
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| 型號 | 晶振測試座 | ||
| 總針腳數 | 4PIN | ||
| 零件狀態 | 在售 | ||
| 安裝類型 | 通孔 | ||
| 特性 | 針對IC、模塊進行燒錄測試老化等 | ||
| 材料 | PEI | ||
| 規格 | 多種規格 | ||
| 售賣地 | 全國 | ||
| 價格 | 來電咨詢 | ||
| 專業 | 高效 | ||
| 發貨地 | 深圳 | ||
| 加工定制 | 是 | ||
| 庫存情況 | 充足 | ||
| 渠道 | 直銷 | ||
| 是否現貨 | 是 | ||
| 用途 | 廣泛 | ||
| 售后服務 | 好 | ||
| 質量 | 高 | ||
| 貨期 | 準 | ||
| 數量 | 10000 | ||
| 封裝 | 3225 | ||
| 批號 | 零售/整批 | ||
| 品牌 | 鴻怡電子 | ||
產品簡介
A、產品用途:老化座、測試座，對3225（3.2*2.5）的IC芯片進行高低溫老化測試
B、適用封裝: 3225(3.2*2.5)-4PIN晶振探針老化座
C、采用雙觸點技術，接觸更穩定、體積小。
D、采用特殊的工程塑膠，強度高、壽命長、阻抗小、彈性好
E、鍍金層加厚，觸點加厚電鍍，超低接觸阻抗、高可靠度，使用壽命（翻蓋結構20000次）
F、我司可提供規格書（布板圖）資料，PDF檔CAD
規格尺寸
A、型號: 3225（3.2*2.5）-4PIN
B、腳位:4
C、芯片尺寸:3.2*2.5
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