QFN28-0.35-3*3測試座0091TGH用于芯片燒錄老煉功能測試

產(chǎn)品價格：	258.00/人民幣
最后更新：	2024-05-12 16:18:27
產(chǎn)品產(chǎn)地：	廣東深圳
發(fā)貨地：	廣東深圳 (發(fā)貨期：當天內發(fā)貨)
供應數(shù)量：	不限
有效期：	長期有效
最少起訂：	1
瀏覽次數(shù)：	39

公司基本資料信息

深圳市鴻怡電子有限公司
William先生
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產(chǎn)品詳細說明

產(chǎn)品參數(shù)
型號	QFN28-0.35-3*3-0091TGH
封裝/規(guī)格	插件
間距	0.35
總針腳數(shù)	28
圓孔/方孔	圓孔
觸頭鍍層	金
工作溫度范圍	-45~155℃
包裝	盒裝
認證機構	CE
最小包裝量	1
數(shù)量	1
封裝	QFN
批號	以出貨為準
用途	老煉老化測試
應用場景	與老化板配合
芯片尺寸	3*3
品牌	ANDK

QFN28-0.35-3*3-0091TGH芯片測試座
1.引腳：28 signal Pin 1 GND；
2.間距：0.35mm
3.尺寸：3*3mm
4.Insulation Resistance:1000MΩ At 500V DC
5.Dielectic Withstanding Voltage:700V AC @ 1Min
6.Contact Resistance:≤50mΩ@10mA/20mV（initial）
7.Temperature:-45~155℃
8.Current Rating：1A Max.

測試座側視圖

測試座頂部視圖，實際結構以圖紙為準

測試座底部視圖，實際結構以圖紙為準

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