- 產(chǎn)品
- 供應(yīng)
- 公司
- 新聞
|
|
||||||||||||||||||||||||||||
| 產(chǎn)品參數(shù) | |||
|---|---|---|---|
| 品牌 | ANDK | ||
| 包裝 | 盒裝 | ||
| 零件狀態(tài) | 在售 | ||
| 安裝類型 | 卡入式 | ||
| 特性 | MCU BGA324功能測試 | ||
| 材料 | PEEK BeCu AL | ||
| 其他集成電路 | 324 | ||
| 產(chǎn)地 | 中國大陸 | ||
| 適用場景 | 對BGA芯片進行性能測試，老化，篩選測試 | ||
| 封裝 | BGA封裝 | ||
| 引腳數(shù) | 324個 | ||
| 測試座類型 | 翻蓋式 | ||
| 引腳間距 | 1.0mm | ||
| 芯片間距 | 1.0 | ||
| 數(shù)量 | 1 | ||
| 批號 | 以出貨為準(zhǔn) | ||
| 可售賣地 | 全國 | ||
| 型號 | BGA324-1.0翻蓋探針測試座帶散熱塊 | ||
.jpg)
.jpg)
.jpg)
