QFN104芯片測試座0.35mm間距10x10mm尺寸老化測試燒錄IC

產(chǎn)品價格：	508.00/人民幣
最后更新：	2025-05-07 01:04:19
產(chǎn)品產(chǎn)地：	廣東深圳
發(fā)貨地：	廣東深圳 (發(fā)貨期：當(dāng)天內(nèi)發(fā)貨)
供應(yīng)數(shù)量：	不限
有效期：	長期有效
最少起訂：	1
瀏覽次數(shù)：	22

公司基本資料信息

深圳市鴻怡電子有限公司
William先生
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產(chǎn)品詳細說明

產(chǎn)品參數(shù)
型號	QFN104（10*10）-0.35-0091TGH
封裝/規(guī)格	插件
類型	DIP
間距	0.35
總針腳數(shù)	104 1
圓孔/方孔	圓孔
觸頭鍍層	金
工作溫度范圍	-45~155℃
包裝	盒裝
認證機構(gòu)	CE
最小包裝量	1
數(shù)量	1
封裝	QFN
批號	以出貨為準(zhǔn)
品牌	ANDK

QFN104-0.35-10*10-0091TGH芯片測試座
1.引腳：104 signal Pin 1 GND；
2.間距：0.35mm
3.尺寸：10*10mm
4.Insulation Resistance:1000MΩ At 500V DC
5.Dielectic Withstanding Voltage:700V AC @ 1Min
6.Contact Resistance:≤50mΩ@10mA/20mV（initial）
7.Temperature:-45~155℃
8.Current Rating：1A Max.

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