芯片激光開封機 laser decap 芯片IC失效分析試驗設備

                            激光開封機decap芯片開帽ic開封反向失效分析

激光開封技術也可以在不破壞芯片或者電路的整體功能的前提下，去除局部的塑封材料，進行測試甚至修復實驗。與化學開封技術相比，激光開封更加高效，同時避免了減少強酸環境暴露。

主要用于對集成電路開蓋，露出晶圓及綁定金銅銀線，用于研究測試及修復功能。從而提升技術及質量品控效果。鐳科LK開封系統功能強大，支持掃描影像導入功能，根據圖形分析自定義設計開封路徑或者圖案等等功能。

售前服務: 1、我們會在半個工作日之內，為您提供相關技術支持和產品行業資料。

       2、我們將為您提供免費打樣等相關便利條件。

      3、廠家直銷，量身定做機型。

售中服務: 1、常規機型，下單即發貨。定做機型：下單即生產，2到35個工作日內發貨。 

     2、專人負責下單到交的貨整個流程，服務也是生產力。

       3、免費安裝、調試和對操作、維修人員培訓。

售后服務: 1、公司免費提供技術支持，包括學習設備操作和日常故障排除方法等。

      2、免費提供控制軟件升級，主板升級，及有關功能的升級增強服務。