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深圳市鴻怡電子有限公司

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 DFN8-2.08X8翻蓋老化座LFPAKHEMT芯片功率器件低阻抗大電流測(cè)試

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 BGA77-1.27-15x9翻蓋老化座LTM4664系列芯片失效性分析測(cè)試用途

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 TSSOP14腳芯片測(cè)試座IC老化座彈跳座子ots28-0.65-01SSOP14底座

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 QFN48測(cè)試座0.5間距7*7翻蓋空座彈片老化低阻抗ICC550-0484-004

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 QFP44-0.8下壓老化座用于MCUARM芯片主控測(cè)試調(diào)試以及老化實(shí)驗(yàn)

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 QFN280.5間距(4*4)芯片測(cè)試座翻蓋編程座燒寫座翻蓋探針老化座

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 QFN40(5x5)-0.4下壓老化座MCU測(cè)試燒錄用于JTAGSWSPI調(diào)試編程

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 QFN32-0.4測(cè)試座轉(zhuǎn)DIP32燒錄座編程座QFN32老化座4*4mm

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 7050-4晶振翻蓋探針老化座測(cè)試座燒錄夾具治具socket焊接式

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 廠家LPDDR4xBGA200測(cè)試治具定制內(nèi)存顆粒測(cè)試座一件起訂

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 定制BGA芯片老化測(cè)試座BGA324球IC轉(zhuǎn)接測(cè)試夾具socket1.0間距FPGA

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 FPC微針模組快速測(cè)試快速夾軟排線柔性PCB金手指測(cè)試彈片高速

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 SOIC24-1.27翻蓋老化座支持7.5mm的本體帶引腳10.3mm特殊eeprom

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 SOT89-3L開爾文老化座4.5*2.45mm芯片測(cè)試?yán)蠠挿桨? width=

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 QFN104芯片測(cè)試座0.35mm間距10x10mm尺寸老化測(cè)試燒錄IC

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 MSOP16-0.5翻蓋老化座3mm本體-帶引腳尺寸4.9mm芯片HASTHTOL測(cè)試

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 QFP48-0.5下壓老化座可JTAGSWDSPII2CUART等接口燒錄與調(diào)試

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 CSGA225-0.8芯片測(cè)試座13x13mm的FPGA固件燒錄調(diào)試編程

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 QFN520.4測(cè)試座國(guó)產(chǎn)替代790-61052-101T用于老化老煉燒錄調(diào)試

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 LCC48-0.5老化座定制MEMS加速度計(jì)8.5x8.5尺寸芯片測(cè)試HAST、HTOL

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