BGA77-1.27-15x9翻蓋老化座LTM4664系列芯片失效性分析測試用途
QFN40-0.4-5*5芯片測試座HASTHTOLHTLLCP老化各等級測試加速實(shí)驗(yàn)
100Pin2.54mm老化插槽用于老化板在老化爐中測試連接解決耐溫轉(zhuǎn)接
eMMC153\/169eMCP162\/186\/221三合一轉(zhuǎn)SD接口測試座數(shù)據(jù)恢復(fù)座
QFN40(6x6)-0.5-0092TGH測試座洛達(dá)AB1512藍(lán)牙語音芯片燒錄老化
LED點(diǎn)陣驅(qū)動(dòng)芯片QFP52-0.65芯片測試座調(diào)試驗(yàn)證芯片的功能和性能
BGA324測試?yán)匣鶌A具治具測試架定制BGA合金探針SOCKET測試座
LCC48-0.8光模塊測試座適配11x11mm高速高頻信號控制部分匹配驗(yàn)證
eMCP162\/186合金翻蓋探針轉(zhuǎn)SD接口測試座eMCP手機(jī)字庫數(shù)據(jù)恢復(fù)
QFP64-0.5下壓老化座MCU調(diào)試燒錄失效分析測試引腳無痕測試座
T48通用編程器主板液晶高速USB燒錄器BIOSMCUEMMC
eMMC5.0\/eMCP測試座UFS2.1轉(zhuǎn)USB3.0讀寫座擦除IC讀卡器支持熱插拔
QFN32-0.4測試座轉(zhuǎn)DIP32燒錄座編程座QFN32老化座4*4mm
7050-4晶振翻蓋探針老化座測試座燒錄夾具治具socket焊接式
廠家LPDDR4xBGA200測試治具定制內(nèi)存顆粒測試座一件起訂
定制BGA芯片老化測試座BGA324球IC轉(zhuǎn)接測試夾具socket1.0間距FPGA
FPC微針模組快速測試快速夾軟排線柔性PCB金手指測試彈片高速
DDR3x8一拖八合金內(nèi)存條測試治具內(nèi)存條測試夾具78Ball高壽命
BGA78-0.8合金翻蓋測試座用于DDR內(nèi)存顆粒功能測試1666mhz壓力測
QFN32(5x5)-0.5測試座非標(biāo)芯片調(diào)試燒錄老化老練測試PMIC功率器件