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深圳市鴻怡電子有限公司

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 QFN40-0.4-5*5芯片測試座HASTHTOLHTLLCP老化各等級測試加速實(shí)驗(yàn)

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 100Pin2.54mm老化插槽用于老化板在老化爐中測試連接解決耐溫轉(zhuǎn)接

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 eMMC153\/169eMCP162\/186\/221三合一轉(zhuǎn)SD接口測試座數(shù)據(jù)恢復(fù)座

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 QFN40(6x6)-0.5-0092TGH測試座洛達(dá)AB1512藍(lán)牙語音芯片燒錄老化

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 LED點(diǎn)陣驅(qū)動(dòng)芯片QFP52-0.65芯片測試座調(diào)試驗(yàn)證芯片的功能和性能

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 BGA324測試?yán)匣鶌A具治具測試架定制BGA合金探針SOCKET測試座

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 LCC48-0.8光模塊測試座適配11x11mm高速高頻信號控制部分匹配驗(yàn)證

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 eMCP162\/186合金翻蓋探針轉(zhuǎn)SD接口測試座eMCP手機(jī)字庫數(shù)據(jù)恢復(fù)

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 QFP64-0.5下壓老化座MCU調(diào)試燒錄失效分析測試引腳無痕測試座

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 T48通用編程器主板液晶高速USB燒錄器BIOSMCUEMMC

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 QFN32-0.4測試座轉(zhuǎn)DIP32燒錄座編程座QFN32老化座4*4mm

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