深圳市鴻怡電子有限公司

72Pin老化板插槽2.54mm間距溫度可達200℃鍍金引腳適應高溫高濕測

定制BGA1521翻蓋探針測試座CPU類BGA芯片功能性燒當座帶散熱翅片

QFN40(5x5)-0.4下壓老化座MCU測試燒錄用于JTAGSWSPI調試編程

SOP10測試座SSOP10鍍金耐高溫夾具1.0間距芯片老化測試用途

QFN52(8x8)-0.5下壓老化座MCU測試座芯片調試燒錄測試IC轉接MLF

QFN16-0.5-3x3翻蓋彈片老化座MCUflash電源芯片可靠性耐久性測試

100Pin2.54mm老化插槽用于老化板在老化爐中測試連接解決耐溫轉接

定制LPDDR4探針測試座BGA200測試治具移動設備內存顆粒燒錄座

3.175mm間距100腳老化插槽適用于大型老化板轉接以及高溫老化測試

QFP48\/LQFP48\/FPQ-48-0.5-06IC測試座燒錄座適配器0.5間距7*7尺寸

DFN10-0.5-3x3翻蓋老化座微小型適于批量高低溫可靠性測試傳感器

QFN68-0.35非標老化座下壓結構IC測試座架構單邊16pin與18Pin

QFN124-0.35下壓老化座集成HDMI集成MCU芯片測試老化可靠性測試座

QFN20(3x3)-0.5-0091TGH下壓ATE測試座可用燒錄HASTHTOLHTRBHTGB

定制GDDR5-170ball測試socketGDDR5顯卡焊接測試座功能測試治具

QFN240.35老化座芯片測試座ICburninsocket助聽硅麥測試連接器

QFN108(12x12)-0.4ICsocket國產替代790-610108-101T老化燒錄調試

QFN48-0.35ATE老化座5*5mm尺寸MCU單片機STM32芯片老化燒錄測試用

3225-4PIN晶振老化座3.2*2.5mm翻蓋探針頻率老練座高低溫測試

QFN20(4x4)-0.5-0091TGH測試座燒錄老化替代790-41020-101T